手機(jī)電池保護(hù)板異常問(wèn)題分析.ppt

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,保護(hù)板異常問(wèn)題分析,,保護(hù)板異常分析,1.無(wú)電壓2.電壓低3.不充電4.無(wú)內(nèi)阻5.內(nèi)阻大6.無(wú)電阻7.過(guò)流大8.不解碼,3.6V保護(hù)板電路圖,1、采用(IC/MOS)CS213+5N20V,7.2V保護(hù)板電路圖,1、采用(IC/MOS)S8232+9926A,一、電壓不良異常分析,1、無(wú)電壓/電壓很低1)萬(wàn)用表開(kāi)關(guān)選擇直流20V檔位.2)用紅表筆接觸電芯正極,黑表筆接觸電芯的負(fù)極,如萬(wàn)用表顯示無(wú)電壓或電壓很低,證明電芯為不良品，可能電芯內(nèi)部微短路。3）保護(hù)板正負(fù)極有無(wú)接反。儀器在給電池充電時(shí)相當(dāng)于強(qiáng)制過(guò)放。4）鎳片是否脫落。,二、充電不良異常分析,1、不充電1)萬(wàn)用表開(kāi)關(guān)選擇直流20V檔位.2)用紅表筆接觸電芯正極或保護(hù)板P+,黑表筆接觸保護(hù)板P-,萬(wàn)用表顯示輸出電壓應(yīng)等于電池電壓,測(cè)試有兩種情況:a、輸出無(wú)電壓：①電芯電壓是否正常。②保護(hù)IC的供電腳5腳電壓是否正常,如無(wú)電壓,檢查電壓采樣電阻是否脫落。③保護(hù)IC或MOS管損壞。,二、充電不良異常分析,1、不充電b、輸出電壓低：①檢測(cè)IC的過(guò)充腳3腳是否在7V以上,如電壓低,檢查這個(gè)腳的支路是否焊接不良。②檢測(cè)IC的過(guò)放腳1腳是否在7V以上,如電壓低,檢查這個(gè)腳的支路是否焊接不良。③檢查保護(hù)IC的負(fù)極是否與電池負(fù)極連通。④保護(hù)IC或MOS管不良。,三、內(nèi)阻不良異常分析,1、無(wú)內(nèi)阻或內(nèi)阻大a、無(wú)內(nèi)阻：①檢查MOS管的引腳有無(wú)焊接不良。②更換MOS管。b、內(nèi)阻大：①探針是否接觸不良或氧化。②檢測(cè)電芯的內(nèi)阻是否超出標(biāo)準(zhǔn)③保護(hù)板內(nèi)阻是否超出標(biāo)準(zhǔn)。④電芯上有無(wú)多加鎳片的現(xiàn)象。,四、電阻不良異常分析,1、無(wú)電阻/電阻大①?gòu)臏y(cè)識(shí)別電阻焊盤(pán)的線(xiàn)路往回找,檢查識(shí)別電阻有無(wú)脫焊。②有無(wú)貼錯(cuò)電阻。③識(shí)別電阻的支路是否短路。④識(shí)別電阻的支路是否開(kāi)路。,五、過(guò)流不良異常分析,1、無(wú)過(guò)流/過(guò)流大①檢查過(guò)流檢測(cè)腳的支路有無(wú)斷開(kāi)。②更換保護(hù)IC。,六、解碼不良異常分析,1、不解碼①檢查測(cè)試架有無(wú)接觸好。②檢查碼片外圍三極管、二極管有無(wú)不良。③更換碼片。④伸級(jí)。,,七、檢測(cè)方法,1、對(duì)比法2、目視法3、電壓測(cè)量法4、通斷測(cè)試法,演講結(jié)束,請(qǐng)多指教,